根轨迹分析是一种图形化方法，用于研究系统根随特定参数变化的情况。该技术可作为稳定性判据，用于确定系统稳定性。根轨迹将频率响应函数的极点绘制在复平面s域中，作为参数的函数。

除了判定系统稳定性外，根轨迹还可用于设计系统的阻尼比(ζ)和固有频率(ω)。恒定阻尼比线可从原点径向绘制，恒定固有频率线可作为反余弦曲线绘制，其中心点与原点重合。通过选择与期望阻尼比和固有频率重合的根轨迹点，可以计算参数并应用于系统。

要生成在线性化时间点获取的该图，请在线性分析菜单中选择根轨迹项。

图2-43. 工具栏中的根轨迹选项

系统将打开专用窗口用于生成根轨迹。

图2-44. 根轨迹工具

该图根据下拉列表中选择的线性化时间生成。

更新按钮可刷新下拉列表以显示最新可用仿真结果。

图中各特征值以符号标记显示。默认符号为'+'，但序列中第一个特征值使用圆圈标记，最后一个使用菱形标记。

图2-45. 根轨迹图示例

当某些特征值存在极端值时，可使用自定义比例选项限制显示的频率范围。勾选该复选框后，最大频率(Hz)字段将被激活。在此可输入图中显示的最大频率值，从而排除极端值。

图2-46. 设置自定义比例

图2-47. 启用最大频率选项的根轨迹图

注意：

根据极点在根轨迹上的位置，可以预测系统的动态特性

图2-48. 不同特征值位置的根轨迹

奈奎斯特图

线性分析示例

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